[Formation] Caractérisation dans le domaine micro-onde et ondes millimétriques
Informations
- Code formation : FFCNCERCERXDM52
- Prix : Nous consulter
- Durée : 3 jour(s)
- Stage intra entreprise
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Présentation
La qualification des circuits et des matériels électroniques et radios passe impérativement par la phase de test, d’où le besoin de comprendre toutes les techniques de mesures, notamment celles de mesure des puissances, bruits, spectres et signaux radiofréquences. Afin d’assurer des mesures fiables et reproductibles, les contraintes associées à la caractérisation dans le domaine hyperfréquence sont plus importantes que dans le domaine basse fréquence (savoir connecter, importance du rôle des câbles de connexion, prise en compte des pertes et des déphasages supplémentaires, etc.).
La bonne maîtrise des composants de base, de la terminologie usuelle et des techniques de mesures s’avère primordiale. La formation mettra en pratique toutes ces compétences pour une réalisation efficace.
Objectifs
- Expliquer les paramètres utilisés en hyperfréquences
- Mesurer les puissances et bruits
- Analyser le synoptique d’un analyseur de spectre et de signaux, son fonctionnement et ses performances
- Relier les caractéristiques linéaires (facteur de bruit, gain) et non-linéaires (compression, intermodulation) à l'analyse et la déformation des signaux transmis
- Expliquer les grandeurs associées (PAPR, EVM)
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Programme
Introduction et rappels
Composants de base et terminologie usuelle
- Détection, mesure de puissance et de spectre : définition des puissances mesurées (distinguer les différentes puissances mesurées en radiofréquences : puissance moyenne, puissance crête, puissance efficace, etc.)
- Description du synoptique d’un analyseur de spectre pour comprendre son paramétrage (visualisation du spectre d’un signal, blocs fonctionnels, leur rôle respectif, etc.)
- Caractérisation de constellations PEP (Puissance Enveloppe Crête), PAPR (Rapport Crête à Puissance Moyenne), EVM (Erreur Vectorielle Moyenne) et ACPR (Puissance du Canal Adjacent) sont utilisés pour représenter graphiquement des signaux modulés et évaluer les leurs performances
- Caractérisation des paramètres « S »
- Analyseur de réseaux vectoriel (VNA)
Techniques de mesures
- Mesure non-linéaire
- Intermodulation
- Mesures de facteur de bruit
Travaux pratiques
- Analyse spectrale et de signaux modulés
- Analyse de réseau vectoriel (VNA) / paramètres « S »
- Mesure de facteur de bruit
Synthèse et conclusion
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Points forts
Panorama complet pour comprendre par la théorie et la pratique la caractérisation hyperfréquences (paramètres S, analyse spectrale, facteur de bruit, limite de linéarité).
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Modalités pédagogiques
Travaux pratiques de caractérisation :
- Linéaire de dispositifs passifs et actifs / paramètres S
- Non linéaire de dispositifs actifs : caractérisation de la compression d’un amplificateur ; incidence de la puissance de sortie (compression IP1, IP3)
- De l’intermodulation (IP3) d’un amplificateur pour des signaux modulés
- Du facteur de bruit d’un amplificateur LNA
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Public cible et prérequis
Cadres techniques et ingénieurs amenés à concevoir des bancs de caractérisation ou à améliorer l’utilisation de leurs appareils de mesure.
Des connaissances en circuits, dispositifs linéaires et non-linéaires ainsi que des connaissances pratiques des appareils sont recommandées afin de tirer pleinement profit de cette formation.
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Responsables
Jean-Christophe COUSIN
Enseignant-chercheur au département "Communications et Electronique" de Télécom Paris, ses activités de recherche sont centrées sur la localisation indoor, la modélisation de canal pour la 5G-6G dans les bandes de fréquences millimétriques et sub-terahertz.